Kiracofe, Daniel; Raman, Arvind Am Eigenmoden, Steifheit und Empfindlichkeit des Rasterkraftmikroskop Ausleger in der Luft gegen Flssigkeiten Raman AFM Measurement Stacy,T.; Liaw,B.Y.; Khan,A.H. Low energy ion bombardme

Stacy, T.; Liaw, B. Y.; Khan, A. H. Niedriger Energieverbrauch Ionenbeschuss Effekte in Gold / Aluminium-Nitrid-Silizium-Kreuzungen Raman AFM Measurement

Tonouchi, M.; Shimakage, H.; Wang, Z.; Tomozawa, S.; Hangyo, M.; Murakami, Y. Atomarer Skala Abflachung und Charakterisierung eines YBCO Filmoberflche Raman AFM Measurement Tonouchi,M.; Shimakage,H.; Wang,Z.; Tomozawa,S.; Hangyo,

Bower, Chris; Zhou, Otto; McNeil, Laurie E.; Tanigaki, Katsumi, Suzuki, Satoru Synthese und Charakterisierung von Pristine und Alkalimetall Zwischenspielen Single-Walled Carbon Nanotubes Raman AFM Measurement Bower,Chris; Zhou,Ot

Bower, C.; Zhou, O.; Jin, L.; Paulson, S.; Superfine, R.; McNeil, L.; Suzuki, S.; Tanigaki, K. Synthese und Charakterisierung von Single-Walled Carbon Nanotubes Raman AFM Measurement Bower,C.; Zhou,O.; Jin,L.; Paulson,S.; Superfi

Rode, Andrei V.; Luther-Davies, Barry; Gamaly, Eugene G. Ultraschnelle Ablation mit hoher Pulsfrequenz Nd: YAG-Laser: II. Versuche ber Abscheidung von diamantartigen Kohlenstoffschichten Raman AFM Measurement Rode,AndreiV.; Luthe

Mu, Richard; Henderson, Don O.; Ueda, Akira, Wu, Marvin H.; Bennett, J. A.; Paliza, M. A.; Huang, M. B.; Keay, J.; Feldman, L. C.; Kwiatkowski, K. C.; und 6 Mitautoren Umfassende Charakterisierung von Kupfer-Indium-Disulfid-Dnnschicht R

Chen, D. H.; Wei, A. X.; Wong, S. P.; Xu, J. B.; Wu, M. M.; Peng, S. Q. Strukturelle und optische Eigenschaften von Stickstoff-haltigen tetraedrischen amorphen Kohlenstoffschichten Raman AFM Measurement Chen,D.H.; Wei,A.X.; Wong,